Ce document détaille une étude de cas où des amplificateurs opératoires TL074 contrefaits ont causé un problème dans un cours d'électronique de niveau débutant à l'Université d'Oklahoma. Les puces contrefaites ont entraîné des dysfonctionnements des circuits et ont généré un moment pédagogique.
Le document explique comment le problème a été initialement découvert et retracé jusqu'aux ICs contrefaits. Au lieu de remplacer simplement les puces, l'équipe pédagogique a transformé la perturbation en une opportunité d'apprentissage.
Le document esquisse comment le programme de laboratoire a été redessiné pour intégrer un processus diagnostique structuré axé sur la détection des puces TL074 contrefaites. Cela incluait l'utilisation d'une méthode de détection de l'ICC (courant de charge), ainsi que des inspections visuelles et d'autres diagnostics.
La recherche a révélé que bien que le test ICC ait aidé à identifier de nombreux puces contrefaites, il n'était pas parfait et parfois non concluivant. Cela a mis en lumière la nécessité de diagnostics supplémentaires tels que les inspections visuelles et l'analyse des formes d'onde.
Le document détaille les résultats de l'implémentation et les thèmes extraits des entretiens avec les assistants de recherche. Les thèmes clés incluaient les limites du test ICC, les défis auxquels les étudiants étaient confrontés en matière de mesure et de flux de travail, et comment l'opportunité a suscité une implication plus profonde et une pensée critique chez les étudiants.
Le document conclut en notant la valeur d'utiliser des problèmes du monde réel comme moment pédagogique. Bien que le test ICC soit un outil utile, il a également mis en lumière la nécessité de diagnostics supplémentaires et a enseigné aux étudiants des compétences précieuses en diagnostic et en validation.