Este documento detalla un estudio de caso en el que amplificadores operacionales TL074 falsificados causaron problemas en un curso de electrónica de nivel junior en la Universidad Estatal de Oklahoma. Los chips falsificados llevaron a fallos en los circuitos y desataron un momento de enseñanza.
El documento explica cómo se descubrió inicialmente el problema y se rastreo hasta los chips falsificados. En lugar de simplemente reemplazar los chips, el equipo instructivo transformó la interrupción en una oportunidad de aprendizaje.
El documento resume cómo se rediseñó el currículo de laboratorio para incorporar un proceso de diagnóstico estructurado enfocado en detectar chips falsificados TL074. Esto incluía el uso de un método de detección de ICC (corriente de suministro), además de la inspección visual y otros diagnósticos.
La investigación encontró que aunque la prueba de ICC ayudó a identificar muchos chips falsificados, no era perfecta y a veces era inconclusa. Esto resaltó la necesidad de diagnósticos adicionales como la inspección visual y el análisis de ondas.
El documento detalla los resultados de la implementación y los temas extraídos de entrevistas con los ayudantes de cátedra. Los temas clave incluyeron las limitaciones de la prueba de ICC, los desafíos que enfrentaron los estudiantes en la medición y el flujo de trabajo, y cómo la oportunidad desató una mayor participación y pensamiento crítico entre los estudiantes.
El documento concluye destacando el valor de utilizar problemas del mundo real como momento de enseñanza. Mientras que la prueba de ICC fue una herramienta útil, también subrayó la necesidad de diagnósticos adicionales y enseñó a los estudiantes habilidades valiosas de solución de problemas y validación.